• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Фадеев, А. В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев. - 2014. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-22. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77-047.84(043)

    Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- НИЗКОТЕМПЕРАТУРНАЯ ПЛАЗМА -- ЭМИССИОННАЯ ТОМОГРАФИЯ
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар14-12687)

    Шифр в сводном ЭК: 7e22d33ec82cb3c7256984813ad609c2



    Заказ фрагмента документа ₽