Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Сарвин А.А. Оптические и оптоэлектронные методы бесконтактных измерений геометрических параметров : специальность 05.02.11 "Методы контроля и диагностика в машиностроении" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. А. Сарвин, 2002. - 42 с. - Текст : непосредственный.Suda M. Quantum interferometry in phase space / M. Suda, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Свиташева С.Н. Эллипсометрия шероховатых поверхностей : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / С. Н. Свиташева, 2009. - 29 с. - Текст : непосредственный.Краснопевцев Е.А. Панорамная интерферометрия объектов круговой цилиндрической формы : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Е. А. Краснопевцев, 2006. - 37 с. - Текст : непосредственный.In-process optical measurements : материалы временных коллективов / Ed. K. H. Spring, 1989. - VIII,241 p. p. - Текст : непосредственный.Ильин В.Н. Оптико-электронные методы и приборы прецизионного контроля геометрических и оптических параметров технических микрообъектов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. Н. Ильин, 2003. - 45 с. - Текст : непосредственный.Белозеров А.Ф. Оптические методы и средства контроля параметров неоднородных прозрачных сред с большим размеров рабочего поля : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. Ф. Белозеров, 2003. - 35 с. - Текст : непосредственный.Осипов Н.И. Разработка и исследование оптико-электронных измерительных устройств на основе многоэлементного фотоприемника мультискана : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. И. Осипов, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Орлов М.Л. Электронный транспорт, детектирование и эмиссия терагерцового излучения в полупроводниковых гетероструктурах / М. Л. Орлов, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Industrial optoelectronic measurement systems using coherent light : материалы временных коллективов / Comp. W. F. Fagan, 1988. - VIII,224 p. p. - Текст : непосредственный.Optical testing and metrology II : материалы временных коллективов / Ed. C. P. Grover, 1989. - VIII,725 p. p. - Текст : непосредственный.In-process optical measurements : материалы временных коллективов / Ed. K. H. Spring, 1989. - VIII,241 p. p. - Текст : непосредственный.
Научно-технический семинар "Лазеры в приборостроении и машиностроении", 19-20 нояб. 1990 г. : Тез. докл. / "Лазеры в приборостроении и машиностроении", науч.-технический семинар (1990; Пенза), 1990. - 52 c. - Текст : непосредственный.Optical sensing and measurement : Proc. of the 7th intern.congr.on applications of laser and electrooptics, 30 Oct.-4 Nov., 1988, St.Clara(Ca) / ICALEO'88, 1989. - VI,147 p. p. - Текст : непосредственный.Оптико-электронные методы и средства в контрольно-измерительной технике : Материалы семинара / Московский Дом науч.-технической пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского, 1991. - 149 c. - Текст : непосредственный.Оптические сканирующие устройства и измерительные приборы на их основе : Тез.докл.к пятому Всесоюз.совещ. Ч. 1 / сост., ред. Павел Иннокентьевич Госьков, 1990. - 182 с. - Текст : непосредственный.Оптические сканирующие устройства и измерительные приборы на их основе : Тез.докл.к пятому Всесоюз.совещ. Ч. 2 / сост., ред. П.И. Госьков, 1990. - 206 с. - Текст : непосредственный.Прецизионные оптико-лазерные и информационно-измерительные системы : тез. докл. 3 науч.-техн. конф. молодых ученых и специалистов ОАО "НПК "СПП", 25-28 янв. 2012 г / под ред. В. Д. Шаргородского, 2012. - 75 с. - Текст : непосредственный.Метрология лазерных измерительных систем : Тез.докл.всесоюз.науч.семинара,20-26 мая 1991 г.:В 2 ч. Ч. 1, 1991. - 117 с. - Текст : непосредственный.Высокоскоростная фотография, фотоника и метрология быстропротекающих процессов : 15 Всесоюз.науч.-техн.конф.:Тез.докл. / Советский ком. по высокоскоростной фотографии и фотонике, 1991. - 129 с. - Текст : непосредственный.Optical 3-D measurement techniques II : 2nd conf.on optical 3-D measurement techniques held from Oct.4-7,1993,Z@:urich / Ed.: A. Gruen, H. Kahmen, 1993. - 624 p. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Заказ фрагмента документа ₽