Полное описание
Черкун, А. П.
ГРНТИ УДК 29.35.43 621.385.833.2(043)
Кл.слова (ненормированные): ДАТЧИК КОНТАКТА -- МЕТОДОЛОГИЯ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ -- ПЬЕЗОЭФФЕКТ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар16-11287)
Шифр в сводном ЭК: c1b366a1118ea268735f114344c15588
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Черкун А.П. Физические аспекты сканирующего фотоэмиссионного микроскопа на основе зонда-капилляра / А. П. Черкун, 2016. - 24 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Михайлов М.А. Система прецизионного механического перемещения для повышения пространственного разрешения и точности измерений линейных размеров в сканирующем зондовом микроскопе : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.01 / М. А. Михайлов, 2015. - 22 с. - Текст : непосредственный. Рехвиашвили С.Ш. Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили, 2004. - 32 c. - Текст : непосредственный. Lenc M. Immersion objective lenses in electron optics : Diss. / M.Lenc, 1992. - 82 p. - Текст : непосредственный. Пьянков Е.С. Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Е. С. Пьянков, 2010. - 26 с. - Текст : непосредственный. Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный. Кошев Н.А. Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 05.13.18 / Н. А. Кошев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный. Стовпяга А.В. Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14 / А. В. Стовпяга, 2012. - 22 с. - Текст : непосредственный. Семин С.В. Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.07 / С. В. Семин, 2012. - 22 с. - Текст : непосредственный. Гудцов Д.В. Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13, 05.11.14 / Д. В. Гудцов, 2006. - 20 с. - Текст : непосредственный. Липанов С.И. Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13, 05.11.14 / С. И. Липанов, 2017. - 20 с. - Текст : непосредственный. Поляков В.В. Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп совместимый с базовыми методами нанотехнологий : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.01 / В. В. Поляков, 2009. - 18 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
