Полное описание
Журнал
IET Biometrics. - New York, NY : IEEE. - Выходит ежеквартально. - ISSN 2047-4938. - Текст : электронный.
ГРНТИ УДК
90.27.39 57.087.1
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): vr=I706287)Записей номеров не найдено