Полное описание

Camus, E. Statische Auswertung von FIM-AP-Tiefenprofilen / E.Camus,C.Abromeit. - Berlin : [s. n.], 1993. - 55 S. : Ill. - (Berichte / Hahn-Meitner-Inst., ISSN 1431-4940 ; B 506). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
53.49.19	669.017:620.187

Рубрики:
Микроскопия ионная
Металлография электронная

Доп. точки доступа:
Abromeit, C.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/3812/B 506)

Шифр в сводном ЭК: f6a3cbae772159d98a70174fb3c74f2b

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽