Полное описание

Буйлова, Н. М. Наукометрический анализ докладов, представленных на Втором Международном форуме по нанотехнологиям ( Москва, 2009 г. ) / Н. М. Буйлова, А. И. Осипов. - Текст : непосредственный // НТИ. Сер. 1, Орг. и методика информ. работы. - 2010. - № 4. - С. 19--25. - Библиогр.: 71 назв.
ГРНТИ 12.01.73

Аннотация: Представлен краткий информационно-аналитический обзор докладов по нанотехнологиям. Приведены наукометрические данные о составе участников форума, распределение авторов по городам и научным центрам. Кратко анализируются проблемы и достижения в области российских исследований по нанотехнологиям.
Доп. точки доступа:
Осипов, А.И.


Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -054511-982227)

Шифр в сводном ЭК: f553583671fc451372b4f02651f2e98c