Полное описание
> Micro and nano mechanical testing of materials and devices / Ed. F. Yang ; eds.: F. Yang, J. C. M. Li. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2008. - XIII, 387 p. : ill. - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 385-387. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
81.09.30 | 620.22-022.532-048.24 | |
47.01.81 | 621.31-181.4-048.24 | |
81.13.30 | 620.3 |
Рубрики:
Наноструктурные материалы -- Испытание
Микросистемотехника
Нанотехнологии
Доп. точки доступа:
Yang, F.\ed.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27707)>
Шифр в сводном ЭК: da07b08efca8432e5c908a4431aab228
Заказ фрагмента документа ₽