Полное описание

Вълков, И. Ц. Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.27.01 / И. Ц. Вълков. - СПб., 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. Библиогр.: с.16(3назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77.001.4(043)
47.01.81

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР94-924)

Шифр в сводном ЭК: d8937dacde620585fd7de0c635c5f293

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽