Полное описание

Айрапетян, В. К. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / В. К. Айрапетян. - М., 1994. - 28 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Всерос. электротехн. ин-т им. В.И.Ленина. Библиогр.:с.28 (6 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.3.026(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР94-5248)

Шифр в сводном ЭК: cac135ea8fbe2c43e9ef5ac0b7dcb256

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽