Полное описание
> Riessen, R. P.van Module generation for selftesting integrated systems : diss. / R.P.van Riessen. - Twente, 1991. - 220 p. : ill. - ISBN 90-9004570-8. - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце глав
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.771.14.001.2(043) |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Проектирование
Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШАЯ ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/24790)>
Шифр в сводном ЭК: c9172933a40aa1b313932dd475a1d4e2
Заказ фрагмента документа ₽