Полное описание

Левин, Б. М. Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности : основы метода и оптические профилографы / Б. М. Левин, кандидат технических наук; редактор канд. техн. наук И. М. Сивоконенко. - Москва ; Ленинград : Машгиз, 1950. - 191, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 189-190 (66 назв.). - 3000 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
55.19.13	621.9.015

Рубрики:
Качество обработанной поверхности

Кл.слова (ненормированные): АНАЛИЗ РАБОТЫ ПОДВЕСОВ -- КОНТАКТНЫЕ ПРИБОРЫ -- ЛАБОРАТОРНЫЙ ПРОФИЛОГРАФ -- ОПТИЧЕСКИЕ СХЕМЫ -- ЭЛЕМЕНТЫ КОНСТРУКЦИЙ
Доп. точки доступа:
Сивоконенко, И.М.\ред.\

Полный текст

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д1/17487)

Шифр в сводном ЭК: c76553ddffaf86248ced1997f25e1aec

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания