Полное описание

Thaele, R. Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion / R.Thaele. - Dusseldorf : VDI, 1991. - 145 S. : Ill. - (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 8, Mess-,Steuerungs-und Regelungstechnik / Verein Dt.Ing. ; N232). - ISBN 3-18-143208-3. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.136-145

ГРНТИ	УДК
29.31.29	681.723

Рубрики:
Микроскопы лазерные

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6410/232)

Шифр в сводном ЭК: b92f0057378d887a823761b9b538bab2

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽