• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Larsson, E. Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization / E. Larsson ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2005. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 29). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b135763. - ISBN 978-0-387-25624-5

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14

    Рубрики:
    Интегральные схемы большие

    Доп. точки доступа:
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/b135763


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 621.3.049.771.14/L34-310803)

    Шифр в сводном ЭК: aac3a75ab9997826d2b50c89fd619e84



    Просмотр издания