Полное описание
> Lipsanen, H. Photoreflectance and X-ray diffraction study of semiconductor heterostructures and quantum wells : diss. / H.Lipsanen. - Espoo, 1994. - 49 p. : ill. - ISBN 951-22-2073-3. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.44-49
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.315.592.9(043) |
Рубрики:
Гетероструктуры -- Методы исследования
Квантовые ямы -- Методы исследования
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/25888)>
Шифр в сводном ЭК: a9574617b0ee52ed456a4dc6af69218f
Заказ фрагмента документа ₽