Полное описание
> Сысоев, Е. В. Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 01.04.05 / Е. В. Сысоев. - 2010. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (9 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
59.41.29 | 681.787(043) |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар10-18018)>
Шифр в сводном ЭК: a36eddbd7d53738624e66f6e5c42a48c
Заказ фрагмента документа ₽