• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Alford, T. L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2007. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8. - ISBN 978-0-387-29261-8. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.19539.216.2-022.532

    Кл.слова (ненормированные): МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ -- НАНОРАЗМЕРНЫЕ ПЛЕНКИ
    Доп. точки доступа:
    Feldman, L.C.
    Mayer, J.W.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 539.216.2-022.532/A34-285714)

    Шифр в сводном ЭК: a16d95a001df177382bee00b8a39082a



    Просмотр издания