Полное описание

Золотаревский, С. Ю. Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский. - 2010. - 35 с. : ил. - Библиогр.: с. 33-35 (12 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
55.01.81	620.179.118(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар10-17308)

Шифр в сводном ЭК: 9a6a05eba716cb2a1dbc9bf3c099b8fb

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽