Полное описание

Gudel, M. X-ray spectroscopy diagnostics with XMM and AXAF: prospects and challenges / M. Gudel, R. Mewe. - Villigen : [s. n.], 1997. - 10 p. : ill. - (Progress report / Paul Scherrer Inst. ; PR-97-24). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.10

ГРНТИ	УДК
41.51.31	520.84-735

Рубрики:
Рентгеновская спектроскопия -- Аппаратура

Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа:
Mewe, R.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/16572/PR-97-24)

Шифр в сводном ЭК: 97fec448b8b2530036dce193658b1dc3

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽