• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Кривоносов, Ю. С. Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Ю. С. Кривоносов. - М., 2003. - 21 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: с. 20-21 (12 назв.)

    ГРНТИ УДК
    55.01.81620.191.35(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-4116)

    Шифр в сводном ЭК: 949fcee285f4787152f32fcfa8784bfe



    Заказ фрагмента документа ₽