Полное описание
> Кривоносов, Ю. С. Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Ю. С. Кривоносов. - М., 2003. - 21 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 20-21 (12 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
55.01.81 | 620.191.35(043) |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-4116)>
Шифр в сводном ЭК: 949fcee285f4787152f32fcfa8784bfe
Заказ фрагмента документа ₽