• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Elgamel, M. A. Interconnect noise optimization in nanometer technologies / M. A. Elgamel, M. A. Bayoumi ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2006. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29366-3. - ISBN 0-387-29366-3. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.05.07621.391.822:621.3.049.76

    Рубрики:
    Микроэлектронные приборы -- Шумы

    Доп. точки доступа:
    Bayoumi, M.A.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29366-3


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 621.391.822:621.3/E43-830095)

    Шифр в сводном ЭК: 942ba026a31435a7981b3257e63822eb



    Просмотр издания