Полное описание
> Фандеев, В. П. Методы внутрисхемного контроля изделий электронной техники : учеб. пособие / В. П. Фандеев. - Пенза : Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2008. - 60 с. : ил. - Библиогр.: с. 59-60 (15 назв.). - 100 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Пенз. гос. ун-т
ГРНТИ | УДК | |
47.01.81 | 621.384.001.4 |
Рубрики:
Электронные приборы -- Техническая диагностика
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-08/55291)>
Шифр в сводном ЭК: 93bdb2809281852c50239a6a0a4468dd
Заказ фрагмента документа ₽