• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - В надзаг.Департамент электрон. пром-сти. - Текст : непосредственный.
    Вып. 3(1636) : Надежность и диагностика интегральных схем, Ч. 1,2 : Долговечность и сохраняемость интегральных схем. Методы и средства неразрушающего контроля микроэлектронных устройств / Б.Е.Бердичевский,Т.Б.Маджарова,Л.Г.Дубицкий. - 1991. - 84 с. : ил.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77
    47.13.81621.3.049.76:620.179

    Рубрики:
    Интегральные схемы
    Микроэлектронные приборы -- Дефектоскопия

    Кл.слова (ненормированные): ДЕФЕКТОСКОПИЯ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ПРИБОР
    Доп. точки доступа:
    Маджарова, Т.Б.
    Дубицкий, Л.Г.
    "Электроника", ин-т (Москва)
    Экз-ры полностью 8ebc01ae532bbe00a384a853de2bf6c8
    Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
    Свободны: ХР (3)
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/15125/3(1636)/1,2)

    Шифр в сводном ЭК: 8ebc01ae532bbe00a384a853de2bf6c8



    Заказ фрагмента документа ₽