Полное описание

Чуприк, А. А. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. А. Чуприк. - Долгопрудный, 2008. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22(8 назв.). - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)

ГРНТИ	УДК
47.33.37	621.3.049.76.002.3:535(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар08-6586)

Шифр в сводном ЭК: 83c1c718cce20af0853b6426e409c734

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽