Полное описание

Дракин, А. Ю. Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов. - 2-е изд., стер. - Санкт-Петербург : Лань, 2021. - 284 с. - URL: https://e.lanbook.com/book/180818 (дата обращения: 10.04.2023) . - Режим доступа: ЭБС Лань. - ISBN 978-5-8114-8773-8. - Текст : электронный.
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки

	УДК
	32.85я73

	ББК
	621.3.049.77

Рубрики:
Инженерно-технические науки -- Электроника, радиотехника и системы связи -- Лань

Кл.слова (ненормированные): АНАЛОГОВЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- СИЛОВЫЕ ДИОДЫ -- ТЕСТЕР -- ТРАНЗИСТОРЫ
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
Доп. точки доступа:
Зотин, В. Ф.
Потапов, Л. А.

Электронная библиотечная система Лань

Держатели документа:
ЭБС Лань : 192029, г. Санкт-Петербург, пр-кт Обуховской обороны, д. 70, корпус 2, лит. А, пом. 1-Н, ком. 247 (Шифр в БД-источнике (EBSLAN): RU-LAN-BOOK-180818)

Шифр в сводном ЭК: 7f9058062a3eb50a9ae58c0702b81871

Просмотр издания ЭБС Лань