Полное описание

Shen, R. Statistical performance analysis and modeling techniques for nanometer VLSI designs / R. Shen, S. X.-D. Tan, H. Yu. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - XXIX, 305 p. : ill. - Библиогр.: с. 287-297 (214 назв.). - ISBN 978-1-4614-0787-4. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14-047.56

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Проектирование

Доп. точки доступа:
Tan, S. X.-D.
Yu, H.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28842)

Шифр в сводном ЭК: 768ccb30cc1cfebabb3f7e07fe57a81f

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽