Полное описание

Chiang, C. Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS / C. Chiang, J. Kawa. - Dordrecht [etc.] : Springer, 2007. - XXVII, 254 p. : ill. - (Series on integrated circuits and systems / ed. A. Chandrakasan). - Библиогр.: с. 243-251 (130 назв.). Указ.: с. 253-254. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.14.07	621.3.049.77.001.2

Рубрики:
Интегральные схемы -- Проектирование

Доп. точки доступа:
Kawa, J.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27788)

Шифр в сводном ЭК: 6f5f375000e506a0111d6f6c782df821

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽