• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Tomitori, M. Applied scanning probe methods ix : characterization / M. Tomitori, H. Fuchs, B. Bhushan ; SpringerLink (Online service). - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - on-line. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4. - ISBN 978-3-540-74083-4. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35-049.9

    Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- ПРИКЛАДНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ МЕТОДЫ
    Доп. точки доступа:
    Fuchs, H.
    Bhushan, B.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35-049.9/T72-742963)

    Шифр в сводном ЭК: 6ce240aed74792b4b648c174acf7a911



    Просмотр издания