Полное описание

Буйлова, Н. М. Наукометрический анализ докладов, представленных на III Международном форуме по нанотехнологиям (Москва, 2010 г.) / Н. М. Буйлова, А. И. Осипов. - Текст : непосредственный // НТИ. Сер. 1, Орг. и методика информ. работы. - 2011. - № 3. - С. 27--31. - Библиогр.: 36 назв.
ГРНТИ 12.01.73

Аннотация: Приведены наукометрические данные о составе участников форума, распределение авторов по городам и научным центрам. Кратко анализируются проблемы и достижения в области российских исследований по нанотехнологиям.
Доп. точки доступа:
Осипов, А.И.


Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -879366-315893)

Шифр в сводном ЭК: 6c6fbad78fff8f011b6f0c9915e33d92