Полное описание

Alford, T. L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2007. - XIV, 336 p. : ill. - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 330-336 . - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19	539.216.2-022.532

Рубрики:
Пленки -- Методы исследования

Доп. точки доступа:
Feldman, L. C.
Mayer, J. W.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27791)

Шифр в сводном ЭК: 64349e83bf626ddf6baae49f108180e4

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽