• ВХОД

    •  

    Полное описание

    International symposium on advanced gate stack technology (4th ; 2007 ; Dallas, Tx). Including selected papers from the fourth IEEE International symposium on advanced gate stack technology held in Dallas, Texas, USA in 2007 / ed. H.-H. Tseng [et al.] ; Ed. H.-H. Tseng. - Amsterdam : Elsevier, 2009. - 207-433 p. : ill. - (Microelectronic engineering ; 2009, Vol. 86, iss. 3). - Библиогр. в конце ст. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.33621.382.032.27(063)

    Рубрики:
    Электроды полупроводниковых приборов -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Tseng, H.-H.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W8956/2009, Vol. 86, iss. 3)

    Шифр в сводном ЭК: 558c1eda116cdd3cef3e75d9e4318521