Полное описание
> Исследование радиационной стойкости Si- и SiC-детекторов на пучке ионов Xe / Л. Грубчин [и др.]. - Дубна : Объед. ин-т ядер. исслед., 2017. - 3, [1] с. : ил. - (Препринт / Объединенный институт ядерных исследований (Дубна) ; Р13-2017-81). - Библиогр. в конце кн. (6 назв.). - 215 экз. - Текст : непосредственный.
Направлено в журн. "Приборы и техника эксперимента"
ГРНТИ | УДК | |
29.15.39 | 539.1.074.55(04) |
Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые -- Влияние ионизирующих излучений
Доп. точки доступа:
Грубчин, Л.
Гуров, Ю.Б.
Затько, Б.
Иванов, О.М.
Митрофанов, С.В.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Р13-2017-81)>
Шифр в сводном ЭК: 502db4b58f39017f17ad904f7a83cb76
Заказ фрагмента документа ₽