Полное описание

Буйлова, Н. М. Наукометрический анализ докладов, представленных на Втором Международном форуме по нанотехнологиям (Москва, 2009 г.) / Н. М. Буйлова, А. И. Осипов. - Текст : непосредственный // Научно-техническая информация. Сер.1, Организация и методика информационной работы : Ежемес.науч.-техн.сб. - 2010. - N 4. - С. 19-25. - ISSN 0548-0019. Библиогр.: 71 назв.
Доп. точки доступа:
Осипов, А. И.


Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -094025)

Шифр в сводном ЭК: 4cb6a437f0c8d2e925ce988209c15be7