Полное описание
> NATO science series. Sub-ser.II, Mathematics, physics and chemistry : материалы временных коллективов. - Dordrecht [etc.] : Kluwer. - Текст : непосредственный.
Vol. 220 : Defects in hugh-k gate dielectric stacks : proc. of the NATO advanced research workshop on defects in hugh-k gate dielectric stacks, St Petersburg, Jul.11-14, 2005 / NATO advanced research workshop on defects in high-k gate dielctric stacks (2005; St. Petersburg) ; Ed.: E.Gusev; Ed.:et al. - Dordrecht [etc.] : Kluwer, 2006. - X, 492 p. : ill. - ISBN 1-4020-4365-1
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382.004.6(063) |
Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Дефекты -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Gusev, E.\ed.\
et al.\ed.\
NATO advanced research workshop on defects in high-k gate dielctric stacks (2005 ; St. Petersburg)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего -20061008 : ХР (-20061008)
Свободны: ХР (1)
Копия:
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18103/220)>
Шифр в сводном ЭК: 334db55b14f1b4b7377b172eaf866969
Заказ фрагмента документа ₽