• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Budiman, A. S. Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales. Synchrotron X-ray Microdiffraction / A.S. Budiman. - Singapore : Springer Science+Business Media, 2015. - on-line. - (SpringerBriefs in Applied Sciences). - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-981-287-335-4. - Загл. с экрана. - ISBN 978-981-287-335-4. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    81.09.03620.22-022.532:539.214

    Кл.слова (ненормированные): ДИФРАКЦИЯ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ -- НАНОСТРУКТУРНЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ПЛАСТИЧНОСТЬ

    https://link.springer.com/book/10.1007/978-981-287-335-4


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-947071)

    Шифр в сводном ЭК: 2516ffdff37123e016e19bb0c1c25fd9



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания