Полное описание
> Исследование Y-Ba-Cu-O пленок методом обратного рассеяния ионов гелия / А.П.Кобзев,Д.Махайдик,Р.Шандрик и др. - Дубна : [б. и.], 1991. - 12 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-91-94). - 370 экз. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 11-12 (9 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
29.19.29 | 538.945(04) |
Рубрики:
Сверхпроводящие пленки -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Кобзев, А.П.
Махайдик, Д.
Шандрик, Р.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Р14-91-94)>
Шифр в сводном ЭК: 1e67fab8b3c1188dd0adc4eb70c09db6
Заказ фрагмента документа ₽