Полное описание

Фигуров, В. С. Прогнозирование показателей стойкости изделий полупроводниковой электроники к воздействию импульсных ионизирующих излучений по результатам испытаний : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.05,05.27.01 / В. С. Фигуров. - М., 2000. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с. 21-24(29 назв.). Для служ. пользования

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382:539.16(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР01-сф58)

Шифр в сводном ЭК: 1d4e1d58772424d467c6c9720df7768b

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽