Полное описание

Во Тан Лонг. Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Во Тан Лонг. - СПб, 1995. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петербург.гос.электротехн.ун-т им.В.И.Ульянова(Ленина). Библиогр.: с.15-16(5 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:54(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-3232)

Шифр в сводном ЭК: 10374178b15e1a62feb02810a1e8d55e

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽