Полное описание
> Мир физики и техники : учебное пособие. - М. : Техносфера, 20 - . - Текст : непосредственный.
2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - 2009. - 206 с. : ил. - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7
ГРНТИ | УДК | |
29.35.43 | 537.533.35 | |
31.19 | 543.422.8.063 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Рентгеноспектральный анализ микрохимический
Доп. точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович (доктор физико-математических наук, профессор )
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего -20090820 : ХРЦ (-20090820)
Свободны: ХРЦ (1)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/65057/2(15))>
Шифр в сводном ЭК: 0bae44106cebb2cd52320e91393cb2ea
Заказ фрагмента документа ₽