The SEM metrology of the microrelief elements / Yu.A.Novikov,A.V.Rakov,I.Yu.Stekolin,I.B.Strizhkov, 1995. - 12 p. - Текст : непосредственный.
Electric field effects in positron diffusion in the laminar structures / Yu.A.Novikov,A.V.Rakov,A.B.Khorev,V.P.Shantarovich, 1991. - 37 p. - Текст : непосредственный.
Новиков Ю.А. About accuracy of dimensions measurements of microrelief elements in an SEM / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1996. - 9 p. - Текст : непосредственный.
Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.
Новиков Ю.А. The thickness measurement of nanometer layers of SiO2 made in the process of the thermometric oxidation of silicon / Ю. А. Новиков, A. V. Rakov, I. B. Strizhkov, 1995. - 12 p. - Текст : непосредственный.
Positron annihilation study of the laminated system structure / V.I.Goldanskiiй,Yu.A.Novikov,A.V.Rakov,V.P.Shantarovich, 1990. - 57 p. - Текст : непосредственный.