Якименко И.Ю. Диагностика структур на основе InGaAs/InP методом комбинационного рассеяния света : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. Ю. Якименко, 1994. - 17 с. - Текст : непосредственный.