Чичерская А.Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореф. дис. .. канд. хим. наук: 02.00.02 / А. Л. Чичерская, 2016. - 24 с. - Текст : непосредственный.