Альфорд Т.Л. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова; науч. ред. А. Н. Образцов, 2012. - 390 с. - Текст : непосредственный.