Сысоев Е.В. Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.05 / Е. В. Сысоев, 2010. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Справочник руководителя учреждения культуры. - Журнал, 2005г. № 4.