Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 3(1636) : Надежность и диагностика интегральных схемЧ. 1,2. Долговечность и сохраняемость интегральных схем. Методы и средства неразрушающего контроля микроэлектронных устройств / Б.Е.Бердичевский,Т.Б.Маджарова,Л.Г.Дубицкий, 1991. - 84 с. - Текст : непосредственный.