Кривоносов Ю.С. Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Ю. С. Кривоносов, 2003. - 21 с. - Текст : непосредственный.