Илларионов Т.Л. Исследование свойств перезарядки глубоких уровней нанокристаллов кремния в матрице SiO[[d]]2[[/d]], облученной ионами / Т. Л. Илларионов. - Текст : непосредственный // Лучшие доклады научной конференции студентов Якутского государственного университета им. М. К. Аммосова, посвященной 80-летию Н. С. Охлопкова (14-15 мая 2009 г.) . - Якутск. - 2009. - с. 16-19