Золотаревский С.Ю. Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : учеб. пособие / С. Ю. Золотаревский; под ред. М. И. Киселева, 2016. - 197 с. - Текст : непосредственный.
Золотаревский С.Ю. Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский, 2010. - 35 с. - Текст : непосредственный.
Золотаревский С.Ю. Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский, 2015. - 32 с. - Текст : непосредственный.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова, 2011. - 590 с. - Текст : электронный.
Приложение
для Android