Дунаевский М.С. Атомно-силовая микроскопия заращенных Si, Ge наноразмерных островков: диагностика и зарядовая нанолитография : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / М. С. Дунаевский, 2007. - 18 с. - Текст : непосредственный.