Во Тан Лонг.Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Во Тан Лонг, 1995. - 16 с. - Текст : непосредственный.