Управление рисками космических проектов / Г. П. Беляков, Ю. A. Анищенко, А. В. Анкудинов, М. В. Сафронов, 2017. - 182 с. - Текст : непосредственный.
Анкудинов А.В. Диагностика наноустройств методами Сканирующей Зондовой Микроскопии : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / А. В. Анкудинов, 2015. - 34 с. - Текст : непосредственный.
Анкудинов А.В. Сканирующая туннельная микроскопия границ раздела в гетероструктурах полупроводниковых соединений А В и А В в атмосферных условиях : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.10 / А. В. Анкудинов, 1997. - 19 с. - Текст : непосредственный.